Ваш город:
ГОСТ
Общероссийский классификатор стандартов → ЭЛЕКТРОНИКА → Полупроводниковые приборы *Полупроводниковые материалы см. 29.045
31.080. Полупроводниковые приборы *Полупроводниковые материалы см. 29.045
← 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 →
- Тиристоры. Метод измерения импульсного запирающего тока управления, импульсного запирающего напряжения управления, импульсного коэффициента запирания
Thyristors. Measurement method of peak gate turn-off current, peak gate turn-off voltage, peak turn-off coefficient
Настоящий стандарт распространяется на триодные запираемые тиристоры малой и средней мощности с максимально допустимым постоянным током в открытом состоянии не более 10 А и устанавливает метод измерения импульсного запирающего тока управления импульсного запирающего напряжения управления тиристора и импульсного коэффициента запирания - Диоды полупроводниковые СВЧ. Методы измерения электрических параметров. Общие положения
Semiconductor UHF diodes. Measurement methods of electrical parameters. General conditions
Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды СВЧ и устанавливает общие положения при измерениях электрических параметров на сверхвысоких частотах - Диоды полупроводниковые СВЧ смесительные и детекторные. Метод измерения коэффициента стоячей волны по напряжению
Semiconductor UHF mixer and detector diodes. Measurement method of voltage standing-wave ratio
Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды СВЧ смесительные и детекторные и устанавливает метод измерения коэффициента стоячей волны по напряжению в диапазоне частот от 0,3 до 300 ГГц - Диоды полупроводниковые СВЧ смесительные. Метод измерения выпрямленного тока
Semiconductor UHF mixer diodes. Measurement method of rectified current
Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые смесительные диоды СВЧ и устанавливает метод измерения выпрямленного тока в диапазоне частот от 0,3 до 300 ГГц - Диоды полупрводниковые СВЧ смесительные. Методы измерения выходного сопротивления на промежуточной частоте
Semiconductor UHF mixer diodes. Measurement methods of output impedance at an intermediate frequency
Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды СВЧ смесительные и устанавливает в диапазоне частот от 0,3 до 300 ГГц следующие методы измерения выходного сопротивления на промежуточной частоте:
метод сравнения;
метод импедансного моста - Диоды полупроводниковые СВЧ смесительные. Методы измерения потерь преобразования
Semiconductor UHF mixer diodes. Measurement methods of conversion losses
Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды СВЧ смесительные и устанавливает в диапазоне частот от 0,3 до 78,3 ГГц методы измерения потерь преобразования:
дифференциальный матод;
метод амплитудной модуляции.
Методы измерений потерь преобразований в диапазоне частот от 78,3 до 300 ГГц следует устанавливать в стандартах или технических условиях на диоды конкретных типов - Диоды полупроводниковые СВЧ смесительные и детекторные. Методы измерения шумового отношения
Semiconductor UHF mixer and detector diodes. Measurement methods of output noise ratio
Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды СВЧ смесительные и детекторные и устанавливает 2 метода измерения шумового отношения при возбуждении диода:
СВЧ мощностью (в диапазоне частот от 0,3 до 78,3 ГГц);
постоянным током - Диоды полупроводниковые СВЧ смесительные. Методы измерения нормированного коэффициента шума
Semiconductor UHF mixer diodes. Measurement methods of standard overall noise figure
Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые смесительные диоды СВЧ и устанавливает в диапазоне частот от 0,3 до 78,3 ГГц два метода измерения нормированного коэффициента шума Fнорм:
метод шумового генератора;
метод определения Fнорм по измененным значениям потерь преобразования и шумового отношения - Диоды полупроводниковые СВЧ детекторные. Метод измерения чувствительности по току
Semiconductor UHF detector diodes. Measurement method of current sensitivity
Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды СВЧ детекторные и устанавливает метод измерения чувствительности по току бета в рабочей точке в диапазоне частот от 0,3 до 300 ГГц - Диоды полупроводниковые СВЧ параметрические и умножительные. Методы измерения постоянной времени и предельной частоты
Semiconductor microwave varactors and multiplier diodes. Methods of measuring time constant and limiting frequency
Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые СВЧ параметрические и умножительные диоды и устанавливает следующие методы измерения постоянной времени и предельной частоты:
метод четырехполюсника;
метод последовательного резонанса диода;
резонаторный метод.
Методы измерения постоянной времени и предельной частоты диода учитывают потери в измерительной диодной камере
Большое спасибо!
Менеджер Елена разобралась в сути нашей проблемы, каждый раз давала очень понятные консультации и помогла собрать все документы. Елена все проверила, перепроверила и взяла решение всех текущих вопросов на себя. Большое спасибо!
Гришина В. И., компания «СТР»Спасибо!
У меня получилось все документы заказать в вашем центре. Очень удобно!
Компания «Исток»Спасибо!
Спасибо менеджеру центра «Севтест» Светлане за оказанные услуги. Нам предоставили ответы на наши вопросы и полезные рекомендации по повышению эффективности ведения бизнеса в соответствии с законодательством. Сотрудничество с вами оставило после себя приятные впечатления.
ООО «Гроза»Спасибо!
Спасибо за проявленную внимательность при оформлении моих документов.
Маринина А.О., г. МоскваБлагодарим!
Благодарим специалистов вашего центра за помощь в процессе решения всех поставленных задач. Мы получили не только их своевременное выполнение, но и профессиональное сопровождение на всех этапах. Нас проинформировали об изменениях в законодательстве, с которыми мы еще не успели ознакомиться. Надеемся на дальнейшее сотрудничество и сохранение сложившихся дружеских отношений. Теперь, когда наши коллеги к нам обращаются за советом, в какой центр обратиться, мы с уверенностью отвечаем – в «Севтест»!
Компания «БиС»
