ГОСТ

Общероссийский классификатор стандартов → ЭЛЕКТРОНИКА → Полупроводниковые приборы *Полупроводниковые материалы см. 29.045

31.080. Полупроводниковые приборы *Полупроводниковые материалы см. 29.045

← 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 →

• ГОСТ 18986.3-73.

  действующий

  от: 01.08.2013
  Название: Диоды полупроводниковые. Метод измерения постоянного прямого напряжения и постоянного прямого тока
  Название (англ): Semiconductor diodes. Method of measuring of direct forward voltage and direct forward current
  Назначение: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает методы измерения постоянного прямого напряжения и постоянного прямого тока.
  Стандарт не распространяется на выпрямительные блоки
  
• ГОСТ 18986.4-73.

  действующий

  от: 01.08.2013
  Название: Диоды полупроводниковые. Методы измерения емкости
  Название (англ): Semiconductor diodes. Methods for measuring capacitance
  Назначение: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает методы измерения общей емкости диода: метод емкостно-омического делителя; мостовой метод; частотный метод
  
• ГОСТ 18986.5-73.

  действующий

  от: 01.08.2013
  Название: Диоды полупроводниковые. Метод измерения времени выключения
  Название (англ): Semiconductor diodes. Method for measuring transition time
  Назначение: Настоящий стандарт распространяется на импульсные диоды и умножительные СВЧ диоды и устанавливает метод измерения времени выключения
  
• ГОСТ 18986.6-73.

  действующий

  от: 01.08.2013
  Название: Диоды полупроводниковые. Метод измерения заряда восстановления
  Название (англ): Semiconductor diodes. Method for measuring recovery charge
  Назначение: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые импульсные и выпрямительные диоды, а также на переключательные диоды диапазона СВЧ, у которых накопленный заряд может быть принят равным заряду восстановления и устанавливает метод измерения заряда восстановления
  
• ГОСТ 18986.7-73.

  действующий

  от: 01.08.2013
  Название: Диоды полупроводниковые. Методы измерения эффективного времени жизни неравновесных носителей заряда
  Название (англ): Semiconductor diodes. Methods for measuring life time
  Назначение: Настоящий стандарт распространяется на импульсные, смесительные и умножительные диоды СВЧ.
  Стандарт устанавливает два метода измерения эффективного времени жизни неравновесных носителей заряда: для импульсных и смесительных диодов СВЧ; для импульсных диодов с накоплением заряда и умножительных диодов СВЧ
  
• ГОСТ 18986.8-73.

  действующий

  от: 01.08.2013
  Название: Диоды полупроводниковые. Метод измерения времени обратного восстановления
  Название (англ): Semiconductor diodes. Method for measuring reverse recovery time
  Назначение: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые импульсные и выпрямительные диоды и устанавливает метод измерения времени обратного восстановления
  
• ГОСТ 18986.9-73.

  действующий

  от: 01.08.2013
  Название: Диоды полупроводниковые. Метод измерения импульсного прямого напряжения и времени прямого восстановления
  Название (англ): Semiconductor diodes. Method for measuring pulse direct voltage and forword recovery time
  Назначение: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает метод измерения импульсного прямого напряжения и времени прямого восстановления
  
• ГОСТ 18986.10-74.

  действующий

  от: 01.08.2013
  Название: Диоды полупроводниковые. Методы измерения индуктивности
  Название (англ): Semiconductor diodes. Methods for measuring inductance
  Назначение: Настоящий стандарт распространяется на все типы полупроводниковых диодов в корпусе, у которых индуктивность более 0,1 нГн. Стандарт устанавливает два метода измерения индуктивности диодов:
  метод I - для диодов, индуктивность которых 2 нГн и более;
  метод II - для диодов, индуктивность которых менее 2 нГн
  
• ГОСТ 18986.11-84.

  действующий

  от: 01.08.2013
  Название: Диоды полупроводниковые. Методы измерения последовательного сопротивления потерь
  Название (англ): Semiconductor diodes. Total series equivalent resistance measurement methods
  Назначение: Настоящий стандарт распространяется на варикапы и туннельные диоды и устанавливает два метода измерения последовательного сопротивления потерь:
  для варикапов, предназначенных для работы в диапазоне от 0,25 до 1000 МГц;
  для туннельных диодов
  
• ГОСТ 18986.12-74.

  действующий

  от: 01.08.2013
  Название: Диоды полупроводниковые туннельные. Метод измерения отрицательной проводимости перехода
  Название (англ): Semiconductor tunnel diodes. Method for measuring negative conductance of the intrinsic diode
  Назначение: Настоящий стандарт распространяется на туннельные полупроводниковые диоды и устанавливает метод измерения отрицательной проводимости
  

← 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 →