ГОСТ

Общероссийский классификатор стандартов → МЕТРОЛОГИЯ И ИЗМЕРЕНИЯ. ФИЗИЧЕСКИЕ ЯВЛЕНИЯ → Линейные и угловые измерения *Включая геометрические характеристики (GPS)

17.040. Линейные и угловые измерения *Включая геометрические характеристики (GPS)

← 1 2 3 4 5 … 25 26 27 28 29 30 31 32 →

• ГОСТ Р 8.636-2007.

  действующий

  от: 01.08.2013
  Название: Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы электронные растровые. Методика калибровки
  Название (англ): State system for ensuring the unifоrmity of measuremеnts. Scanning electron microscopes. Methods for calibration
  Назначение: Настоящий стандарт распространяется на растровые электронные микроскопы, применяемые для измерений линейных размеров в диапазоне от 10 в ст. минус 9 до 10 в ст. минус 6 м, и устанавливает методику их калибровки с помощью рельефных мер по ГОСТ Р 8.628 и ГОСТ Р 8.629
  
• ГОСТ Р 8.644-2008.

  действующий

  от: 01.08.2013
  Название: Государственная система обеспечения единства измерений. Меры рельефные нанометрового диапазона с трапецеидальным профилем элементов. Методика калибровки
  Название (англ): State system for ensuring the uniformity of measurements. Nanometer range relief measures with trapezoidal profile of elements. Methods for calibration
  Назначение: Настоящий стандарт распространяется на рельефные меры нанометрового диапазона с трапецеидальным профилем элементов, линейные размеры и материал для изготовления которых соответствуют требованиям ГОСТ Р 8.628. Рельефные меры применяют для измерения линейных размеров в диапазоне от 10 в ст. минус 9 до 10 в ст. минус 6 м.
  Настоящий стандарт устанавливает методику калибровки рельефных мер
  
• ГОСТ Р 8.670-2009.

  действующий

  от: 01.08.2013
  Название: Государственная система обеспечения единства измерений. Преобразователи индуктивные прецизионные для измерения линейных размеров (параметров). Методика поверки
  Название (англ): State system for ensuring the uniformity of measurements. Precision inductive transducers for linear dimensions (parameters). Methods of verifications
  Назначение: Настоящий стандарт распространяется на индуктивные прецизионные преобразователи, предназначенные для измерений линейных размеров (параметров) до 100 нм, входящие в общую индуктивную измерительную систему, и устанавливает методику их первичной и периодической поверок
  
• ГОСТ Р 8.671-2009.

  действующий

  от: 01.08.2013
  Название: Государственная система обеспечения единства измерений. Приборы активного контроля линейных параметров. Методика поверки
  Название (англ): State system for ensuring the uniformity of measurements. In process gauges of linear parameters. Verification methods
  Назначение: Настоящий стандарт распространяется на приборы активного контроля линейных параметров по ГОСТ 8517, применяемые для управления процессом обработки на металлорежущих станках, и устанавливает методику их первичной и периодических поверок.
  Стандарт распространяется также на приборы с ценой деления 100 нм (0,1 мкм) и погрешностью выдачи управляющих команд 100 нм (0,1 мкм)
  
• ГОСТ Р 8.672-2009.

  действующий

  от: 01.08.2013
  Название: Государственная система обеспечения единства измерений. Преобразователи электроконтактные для измерения линейных размеров (параметров). Методика поверки
  Название (англ): State system for ensuring the uniformity of measurements. Transducers with electric contacts for measuring the linear dimensions (parameters). Verification methods
  Назначение: Настоящий стандарт распространяется на электроконтактные преобразователи предельные и амплитудные с отсчетными устройствами и устанавливает методы и средства их первичной и периодической поверок
  
• ГОСТ Р 8.677-2009.

  действующий

  от: 01.08.2013
  Название: Государственная система обеспечения единства измерений. Калибры резьбовые цилиндрические. Методика поверки
  Название (англ): State system for ensuring the uniformity of measurements. Cylindric thread gauges. Verification procedure
  Назначение: Настоящий стандарт распространяется на цилиндрические резьбовые калибры, выпускаемые из производства по ГОСТ 24997 (ИСО 1502), ГОСТ 1623, ГОСТ 2533, ГОСТ 3199, ГОСТ 10071, ГОСТ 10278, ГОСТ 13798, ГОСТ 14747, ГОСТ 25578, и устанавливает методику их первичной и периодической поверок.
  Настоящий стандарт допускается применять и для поверки других цилиндрических резьбовых калибров с аналогичным профилем резьбы
  
• ГОСТ Р 8.696-2010.

  действующий

  от: 01.08.2013
  Название: Государственная система обеспечения единства измерений. Межплоскостные расстояния в кристаллах и распределение интенсивностей в дифракционных картинах. Методика выполнения измерений с помощью электронного дифрактометра
  Название (англ): State system for ensuring the uniformity of measurements. Interplanar spacings in crystals and the intensity distribution in diffraction patterns. Method for measurement by means of an electron diffractometer
  Назначение: Настоящий стандарт устанавливает методику выполнения измерений межплоскостных расстояний в кристаллах, кристаллических тонких пленках и покрытиях, нанокристаллах и распределений интенсивностей рефлексов в дифракционных картинах, полученных при дифракции пучка электронов на кристаллах с помощью электронного дифрактометра.
  Настоящий стандарт применяют для определения межплоскостных расстояний в кристаллах в диапазоне линейных размеров от 0,08 до 20,00 нм и распределения токовых интенсивностей рефлексов в дифракционных картинах, полученных от кристаллов в диапазоне от 10 в ст. минус14 до 10 в ст. минус 6 А.
  Настоящий стандарт не устанавливает методику определения типа элементарной решетки кристалла и индекса Миллера плоскостей кристалла, между которыми вычисляют расстояния
  
• ГОСТ Р 8.697-2010.

  действующий

  от: 01.08.2013
  Название: Государственная система обеспечения единства измерений. Межплоскостные расстояния в кристаллах. Методика выполнения измерений с помощью просвечивающего электронного микроскопа
  Название (англ): State system for ensuring the uniformity of measurements. Interpenar spacings in crystals. Method for measurement by means of a transmission electron microscope
  Назначение: Настоящий стандарт устанавливает методику выполнения измерений межплоскостных расстояний в кристаллах, кристаллических тонких пленках и покрытиях, нанокристаллах и иных образцах толщиной не более 200 нм с помощью просвечивающего электронного микроскопа.
  Настоящий стандарт применяют для определения межплоскостных расстояний в кристаллах в диапазоне линейных размеров от 0,08 до 10,00 нм в режиме дифракции и в диапазоне линейных размеров от 0,2 до 10,0 нм в режиме изображения
  
• ГОСТ Р 8.698-2010.

  действующий

  от: 01.08.2013
  Название: Государственная система обеспечения единства измерений. Размерные параметры наночастиц и тонких пленок. Методика выполнения измерений с помощью малоуглового рентгеновского дифрактометра
  Название (англ): State system for ensuring the uniformity of measurements. Dimensional parameters of nanoparticles and thin films. Method for measurement by means of a small angle X-ray scattering diffractometer
  Назначение: Настоящий стандарт устанавливает методику выполнения следующих измерений с помощью автоматического рентгеновского малоуглового дифрактометра:
  - максимальных размеров и электронных радиусов инерции наночастиц в монодисперсных системах в диапазоне от 1 до 100 нм;
  - распределения наночастиц по размерам в полидисперсных системах в диапазоне от 1 до 100 нм;
  - общей толщины и размера периода повторения слоев в многослойных пленках толщиной от 1 до 100 нм.
  Настоящий стандарт распространяется на:
  - материалы, содержащие системы наночастиц со среднеарифметическим расстоянием между ними не менее 10 максимальных линейных размеров, с однородной электронной плотностью, большей или меньшей электронной плотности окружающей их среды;
  - многослойные пленки с известным числом одинаковых групп слоев, изготовленные на твердых плоских подложках
  
• ГОСТ Р 8.700-2010.

  действующий

  от: 01.08.2013
  Название: Государственная система обеспечения единства измерений. Методика измерений эффективной высоты шероховатости поверхности с помощью сканирующего зондового атомно-силового микроскопа
  Название (англ): State system for ensuring the uniformity of measurements. Method of surface roughness effective height measurements by means of scanning probe atomic force microscope
  Назначение: Настоящий стандарт устанавливает методику измерений эффективной высоты шероховатости изотропных поверхностей твердых тел с помощью сканирующего зондового атомно-силового микроскопа.
  Настоящий стандарт применяют при измерениях эффективной высоты шероховатости поверхностей твердых тел в диапазоне от 10 (в степени минус девять) до 10 (в степени минус пять) м
  

← 1 2 3 4 5 … 25 26 27 28 29 30 31 32 →