Ваш город:
ГОСТ
Общероссийский классификатор стандартов → ЭЛЕКТРОНИКА → Интегральные схемы. Микроэлектроника *Включая электронные микросхемы, логические и аналоговые микроструктуры *Микропроцессоры см. 35.160
31.200. Интегральные схемы. Микроэлектроника *Включая электронные микросхемы, логические и аналоговые микроструктуры *Микропроцессоры см. 35.160
- Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Метод измерения напряжения изоляции
Optoelectronic integrated microcircuits and optocouplers. Method for measuring of isolation voltage
Настоящий стандарт распространяется на оптоэлектронные интегральные микросхемы и оптопары и устанавливает метод измерения напряжения изоляции (постоянного или импульсного) - Оптопары резисторные. Метод измерения светового и темнового выходного сопротивления
Resistor opto-couples. Method for measuring light and dark output resistance
Настоящий стандарт распространяется на резисторные оптопары и устанавливает метод измерения светового и темнового выходного сопротивления - Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Методы измерения критической скорости изменения напряжения изоляции
Optoelectronic integrated microcircuits and optocouples. Methods for measuring of critical change rate of dielectric voltage
Настоящий стандарт распространяется на оптоэлектронные интегральные микросхемы и оптопары, в том числе переключатели логических сигналов, и устанавливает два метода измерения критической скорости изменения напряжения изоляции: прямой и косвенный.
Косвенный метод применяют при наличии вывода от входа встроенной микросхемы, входящей в состав проверяемого прибора - Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Метод измерения временных параметров
Optoelectronic integrated microcircuits and optocouplers. Method for measuring switching times
Настоящий стандарт распространяется на оптоэлекронные интегральные микросхемы и оптопары и устанавливает метод измерения временных параметров: времени включения, времени выключения, времени спада, времени нарастания, времени задержки, времени сохранения, времени перехода при включении, времени перехода при выключении, времени задержки распространения сигнала при включении, времени задержки распространения сигнала при выключении, времени задержки включения, времени задержки выключения.
Стандарт не распространяется на коммутаторы аналоговых сигналов и нагрузки и тиристорные оптопары - Микросхемы интегральные оптоэлектронные. Метод измерения тока помехи и напряжения помехи низкого и высокого уровней переключателей логических сигналов
Optoelectronic integrated microcircuits. Method for measuring noise current and noise voltage for low and high levels of logic signal switches
Настоящий стандарт распространяется на переключатели логических сигналов оптоэлектронных интегральных микросхем и устанавливает метод измерения тока помехи и напряжения помехи низкого и высокого уровней - Микросхемы интегральные оптоэлектронные. Метод измерения входного напряжения низкого и высокого уровней переключателей логических сигналов
Optoelectronic integrated microcircuits. Method for measuring input voltage for low and high levels of logic signal switches
Настоящий стандарт распространяется на переключатели логических сигналов оптоэлектронных интегральных микросхем и устанавливает метод измерения входного напряжения низкого и высокого уровней - Микросхемы интегральные оптоэлектронные. Метод измерения выходного напряжения низкого и высокого уровней переключателей логических сигналов
Optoelectronic integrated microcircuits. Method for measuring output voltage for low and high levels of logic signal switches
Настоящий стандарт распространяется на переключатели логических сигналов оптоэлектронных интегральных микросхем и устанавливает метод измерения выходного напряжения низкого и высокого уровней - Микросхемы интегральные оптоэлектронные. Метод измерения выходного тока короткого замыкания переключателей логических сигналов
Optoelectronic integrated microcircuits. Method for measuring short circuit of logic signal switches
Настоящий стандарт распространяется на переключатели логических сигналов оптоэлектронных интегральных микросхем и устанавливает метод измерения выходного тока короткого замыкания - Микросхемы интегральные оптоэлектронные. Метод измерения токов потребления при низком и высоком уровнях выходного напряжения переключателей логических сигналов
Optoelectronic integrated microcircuits. Method for measuring consumption currents of low and high levels of logic signal switches
Настоящий стандарт распространяется на переключатели логических сигналов оптоэлектронных интегральных микросхем и устанавливает метод измерения токов потребления при низком и высоком уровнях выходного напряжения - Микросхемы интегральные оптоэлектронные. Метод измерения тока потребления, переключения и длительности тока потребления переключения переключателей логических сигналов
Optoelectronic integrated microcircuits. Method for measuring consumption carrent of switching and its duration of logic signal switches
Настоящий стандарт распространяется на переключатели логических сигналов оптоэлектронных интегральных микросхем и устанавливает метод измерения тока потребления переключения и длительности тока потребления переключения
Большое спасибо!
Менеджер Елена разобралась в сути нашей проблемы, каждый раз давала очень понятные консультации и помогла собрать все документы. Елена все проверила, перепроверила и взяла решение всех текущих вопросов на себя. Большое спасибо!
Гришина В. И., компания «СТР»Спасибо!
У меня получилось все документы заказать в вашем центре. Очень удобно!
Компания «Исток»Спасибо!
Спасибо менеджеру центра «Севтест» Светлане за оказанные услуги. Нам предоставили ответы на наши вопросы и полезные рекомендации по повышению эффективности ведения бизнеса в соответствии с законодательством. Сотрудничество с вами оставило после себя приятные впечатления.
ООО «Гроза»Спасибо!
Спасибо за проявленную внимательность при оформлении моих документов.
Маринина А.О., г. МоскваБлагодарим!
Благодарим специалистов вашего центра за помощь в процессе решения всех поставленных задач. Мы получили не только их своевременное выполнение, но и профессиональное сопровождение на всех этапах. Нас проинформировали об изменениях в законодательстве, с которыми мы еще не успели ознакомиться. Надеемся на дальнейшее сотрудничество и сохранение сложившихся дружеских отношений. Теперь, когда наши коллеги к нам обращаются за советом, в какой центр обратиться, мы с уверенностью отвечаем – в «Севтест»!
Компания «БиС»
